高壓套管介質損耗因數(shù)tanδ的現(xiàn)場測量方法
1、試驗條件
本試驗應在良好的天氣，試品及環(huán)境溫度不低于+5℃和空氣相對濕度不大于80%的條件下進行。
2、準備工作
測試前，應先測量試品各電極間的絕緣電阻。必要時可對試品表面 (如外瓷套或電容套管分壓小瓷套，二次端子板等）進行清潔或干燥處理。了解充油電力設備絕緣油的電氣、化學性能（包括油的tanδ）的較近試驗結果。
3、試驗接線
測量裝在三相變壓器上的任一只電容型套管的tanδ和電容時，相同電壓等級的三相繞組及中性點（若中性點有套管引出者），必須短接加壓，將非測量的其他繞組三相短路接地。否則會造成較大的誤差?，F(xiàn)場常采用高壓電橋正接線或介質損耗測試儀測量，將相應套管的測量用小套管引線接至電橋的Cx端，或M型介質試驗器的D點(見圖1-1)，一個一個地進行測量。
1) 抽壓小套管絕緣不良，因其分流作用，使測量的tanδ值產(chǎn)生偏小的測量誤差。
2) 當相對濕度較大（如在80%以上）時，正接線使測量結果偏小，甚至tanδ測值出現(xiàn)負值；反接線使測量結果往往偏大。潮濕氣候時，不宜采用加接屏蔽環(huán)，來防止表面泄漏電流的影響，否則電場分布被改變，會得出難認置信的測量結果。有條件時可采用電吹風吹干瓷表面或待陽光曝曬后進行測量。
3) 套管附近的木梯、構架、引線等所形成的雜散損耗，也會對測量結果產(chǎn)生較大影響，應予搬除。套管電容越小，其影響也越大，試驗結果往往有很大差別。
4) 自高壓電源接到試品導電桿頂端的高壓引線，應盡量遠離試品中部法蘭，有條件時高壓引線zui好自上部向下引到試品，以免雜散電容影響測量結果。
5、判斷及標準
套管測得的tanδ(%)按DL/T 596進行綜合判斷。
判斷時應注意：
1) tanδ值與出廠值或初始值比較不應有顯著變化。
2) 電容式套管的電容值與出廠值或初始值比較一般不大于±10%，當此變化達±5%時應引起注意，500kV套管電容值允許偏差為±5%。
信息整理：揚州拓普電氣科技有限公司 信息來源：m.ef2822.com
本試驗應在良好的天氣，試品及環(huán)境溫度不低于+5℃和空氣相對濕度不大于80%的條件下進行。
2、準備工作
測試前，應先測量試品各電極間的絕緣電阻。必要時可對試品表面 (如外瓷套或電容套管分壓小瓷套，二次端子板等）進行清潔或干燥處理。了解充油電力設備絕緣油的電氣、化學性能（包括油的tanδ）的較近試驗結果。
3、試驗接線
測量裝在三相變壓器上的任一只電容型套管的tanδ和電容時，相同電壓等級的三相繞組及中性點（若中性點有套管引出者），必須短接加壓，將非測量的其他繞組三相短路接地。否則會造成較大的誤差?，F(xiàn)場常采用高壓電橋正接線或介質損耗測試儀測量，將相應套管的測量用小套管引線接至電橋的Cx端，或M型介質試驗器的D點(見圖1-1)，一個一個地進行測量。
1) 抽壓小套管絕緣不良，因其分流作用，使測量的tanδ值產(chǎn)生偏小的測量誤差。
2) 當相對濕度較大（如在80%以上）時，正接線使測量結果偏小，甚至tanδ測值出現(xiàn)負值；反接線使測量結果往往偏大。潮濕氣候時，不宜采用加接屏蔽環(huán)，來防止表面泄漏電流的影響，否則電場分布被改變，會得出難認置信的測量結果。有條件時可采用電吹風吹干瓷表面或待陽光曝曬后進行測量。
3) 套管附近的木梯、構架、引線等所形成的雜散損耗，也會對測量結果產(chǎn)生較大影響，應予搬除。套管電容越小，其影響也越大，試驗結果往往有很大差別。
4) 自高壓電源接到試品導電桿頂端的高壓引線，應盡量遠離試品中部法蘭，有條件時高壓引線zui好自上部向下引到試品，以免雜散電容影響測量結果。
5、判斷及標準
套管測得的tanδ(%)按DL/T 596進行綜合判斷。
判斷時應注意：
1) tanδ值與出廠值或初始值比較不應有顯著變化。
2) 電容式套管的電容值與出廠值或初始值比較一般不大于±10%，當此變化達±5%時應引起注意，500kV套管電容值允許偏差為±5%。
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